粉末抗壓強度測試機執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)是GB/T 43091— 2023。

粉末抗壓強度測試機主要用于制備的小樣品的力學(xué)性能測試，特別是材料和生物領(lǐng)域，幾毫米甚至1毫米以下的樣品非常常見，另外很多樣品很軟，測試的力度只需要幾十微牛。微小力值測試儀主要對材料進行拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗，可以精密求取抗拉力、抗拉強度、斷裂強度、初始模量、斷裂伸長率、應(yīng)力應(yīng)變、屈服強度的測定，以及些產(chǎn)品的特殊試驗。三閉環(huán)測控可以實現(xiàn)反復(fù)循環(huán)和低周疲勞測試等。試驗過程中，微機實時采集力值和變形信號，軟件顯示“力值—位移"曲線，試驗結(jié)束后，自動計算，保存參數(shù)，并可打印出實驗報告。

粉末顆粒壓潰力試驗機用于測試粒徑為 5 μm~50μm 的球形 、類球形或不規(guī)則形粉末抗壓強度的測定。

粉末顆粒隨壓力的增加發(fā)生變形直至被壓潰 。記錄試驗力與壓縮位移的關(guān)系曲線 , 粉末壓潰時的試驗力為顆粒的壓潰力 Fyk 。根據(jù)粉末顆粒的粒徑d 計算出顆粒的 受力面積 ,進而計算出粉末顆?？箟簭姸?。

微小壓縮試驗機 ,配備 10倍及以上倍數(shù)的目鏡和物鏡 ,試驗力加載精度優(yōu)于試驗力的 1% ,位移精 度優(yōu)于 0. 01d。

粉末顆粒壓潰力試驗機技術(shù)參數(shù)：

1. 產(chǎn)品規(guī)格： HY-0230

2． 精度等級： 0.5級

3． 微力負(fù)荷： 0.5N 1N 5N 10N 20N 50N 100N （任選或多選）

4． 有效測力范圍：0.1/100-99.999%;

5． 試驗力分辨率，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。

6. 位移分辨率：0.0001mm

7. 變形分辨率：0.0001mm

8． 有效試驗寬度：120mm

9． 有效試驗空間：300mm

10． 試驗速度:：0.001~300mm/min(任意調(diào))

11. 速度精度：示值的±0.5%以內(nèi)；

12．位移測量精度：示值的±0.5%以內(nèi)；

13．變形測量精度：示值的±0.5%以內(nèi)；

14．應(yīng)力控速率范圍： 0.005%～6％FS/S

15．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±1%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；

16．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S

17．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±2%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；

18. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～99.999％FS

19．恒力/位移/變形測量精度：設(shè)定值＜10％FS時, 為設(shè)定值的±1%以內(nèi)； 設(shè)定值≥10％FS時, 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；

20．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點動；

21．試臺安全裝置：電子限位保護

22．試臺返回：手動可以高速度返回試驗初始位置，自動可在試驗結(jié)束后自動返回；

23．試驗定時間自動停車,試驗定變形自動停車,試驗定負(fù)荷自動停車

24．超載保護：超過大負(fù)荷10%時自動保護；

25. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)進行過載、過壓、過流、超負(fù)荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進行保護

26．電源功率： 400W

27．主機重量： 40kg

28. 電源電壓: 220V（單相）

29. 主機尺寸：430*315*855mm

抗壓強度的測試按以下步驟進行 :

a) 按照 GB/T 19077的規(guī)定測定粉末的粒度分布 ,確定粉末的中位粒徑(D50) ;

b) 使用柔軟的無塵布或潔凈紙對試驗平臺及壓頭進行清理 ;

c) 開啟設(shè)備系統(tǒng) ,運行 30min;

d) 將待測粉末均勻鋪散在試驗平臺上 ;

e) 將試驗平臺轉(zhuǎn)移至微小壓縮試驗機物鏡下并固定 ,根據(jù)樣品特性設(shè)置合適的加載壓力和加載 速率 ;

f) 調(diào)整試驗平 臺 位 置 , 觀 察 平 面 壓 頭 視 區(qū) 內(nèi) 的 顆 粒 , 選 擇 有 代 表 性 目 標(biāo) 粒 徑 (與 D50 相 近) 的 顆粒 ;

g) 調(diào)整目鏡或物鏡倍數(shù) ,使單一個顆粒位于平面壓頭視區(qū)中心 ,微調(diào)試驗平臺高度 ,使目標(biāo)顆 粒邊緣清晰 ,測量顆粒粒徑 ;

h) 再次微調(diào)試驗平臺高度 ,使目標(biāo)顆粒移動至頂點并聚焦 ,移動試驗平臺至平面壓頭下 ,測試并 獲得試驗力與壓縮位移曲線 ;

i) 測試顆粒數(shù)不少于 5個 ,也可按照實際需求選擇測試顆粒數(shù) 。

試驗條件：溫度為 25 ℃±3℃ ,相對濕度不大于 60% 。試驗過程應(yīng)無振動和對流空氣的影響 。